Thick 800A Analizador de espesor de placas
El analizador Thick800A XRF está diseñado para un análisis rápido y no destructivo del espesor de la capa de recubrimiento y las composiciones de las soluciones de recubrimiento y recubrimiento.
Algunas características del Thick 800A incluyen:
Iluminación superior para facilitar la medición de muestras de diferentes espesores.
Colocación automática de la muestra en altura con guía láser.
Búsqueda automática de puntos para una alineación precisa del punto de prueba.
Posicionador de precisión posicionador.
Micro colimador para mejorar la precisión de las pruebas.
Apuntar y hacer clic con el mouse para determinar el punto de prueba.
Especificaciones tecnicas
Transductor de altitud.
Detector de semiconductores de Si-PIN.
Medición de hasta 5 capas de chapado.
Micro colimador para mejorar la precisión de las pruebas.
Elementos: Na a U (más de 24 simultáneamente).
Rango de contenido: 1 ppm - 99.99%.
Repetibilidad: 0.1%
Estabilidad del período largo: 0.1%
Dimensiones: 648 x 490 x 544 mm.
Cámara de muestras: 517 x 352 x 150 mm.
